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本发明属于变压器变比测试技术领域，具体涉及一种低频变压器变比测试装置。针对现有技术中尚无低频变比测试装置且现有工频变比测试装置无法应用于低频场景下或在低频场景下测量不准的不足，发明采用如下技术方案：一种低频变压器变比测试装置，包括：低频电源发生模块，包括依次相连的低频电源控制器、MOS管驱动电路、三相全桥逆变电路和三相滤波器；低频信号采集模块，包括依次相连的信号输入电路、有源滤波电路和AD转换器；人机交互模块；中央处理器。本发明的有益效果是：通过低频电源发生模块输出测试所需要的低频三相交流电流，
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116990597 A
(43)申请公布日 2023.11.03
(21)申请号 202310800149.7 (51)Int.Cl .
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