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本发明公开了一种芯片视觉测试数据的存储方法，属于数据处理领域，其中方法包括：获得目标芯片的Q个测试点位集合并对存储模块进行空间划分，获得Q个存储空间划分结果；采集目标芯片的M个测试点位输出的M个测试数据集合，并对数据集合进行聚类分析，获得P个待分配测试数据集合；获取P个数据指标参数集合；将数据量参数集合、关注度参数集合和时延因子输入存储评价模型中，获得P个评价值集合根据评价值集合、待分配测试数据集合存储空间划分结果，获得存储方案。本申请解决了现有技术中芯片视觉测试数据存储资源浪费、数据访问低效的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117009303 A
(43)申请公布日 2023.11.07
(21)申请号 202310824790.4
(22)申请日 2023.07.06
(71)申请人 苏州领威电子科技有限公司
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