验证方法、验证装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

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本申请提供的验证方法、验证装置、电子设备及存储介质,该验证方法通过向待验证模块中输入激励,所述待验证模块为优化后的用于对PCIE的待发送数据进行解码处理的模块;所述激励包括多个数据包;获取待验证模块的输出响应,并将其与预设标准进行比较。其中,所述预设标准为已通过测试的标准模块在所述激励下的输出响应;所述标准模块为优化前的用于对PCIE的待发送数据进行解码处理的模块;若待验证模块的输出响应与预设标准相同,则验证通过;否则,验证不通过。本申请提供的验证方法相比于通过PCIE的总线传输协议进行验证,本

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117009152 A (43)申请公布日 2023.11.07 (21)申请号 202210469093.7 (22)申请日 2022.04.29 (71)申请人 龙芯中科技术股份有限公司 地址

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