一种探针测试台、制备方法及CP测试装置.pdfVIP

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2023-11-08 发布于四川
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一种探针测试台、制备方法及CP测试装置.pdf

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本发明属于CP测试技术领域，公开了一种探针测试台、制备方法及CP测试装置，该探针测试台通过相互一一对应连通的GNDPAD与PAD，重塑了芯片电信号的回流路径，具体而言，就是芯片的电信号经过设置在MLO上的PAD后经回流至LGP部件上的GNDPAD,即能够避免了现有技术中芯片电信号需要经过MLO与PCB的问题，从而能够有效缩短芯片电信号的回流路径，进而有助于减少信号损失和串扰等干扰，有利于信号传输，使得测试效果明显，减少芯片测试失败，以及不良品产生，更能真实反映芯片本身性能。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117007843 A (43)申请公布日 2023.11.07 (21)申请号 202310991120.1 (22)申请日 2023.08.08 (71)申请人苏州晶晟微纳半导体科技有限公司地