一种基于多维关联规则挖掘的FPGA软件缺陷分析方法.pdfVIP

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2023-11-11 发布于四川
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一种基于多维关联规则挖掘的FPGA软件缺陷分析方法.pdf

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本发明涉及一种基于多维关联规则挖掘的FPGA软件缺陷分析方法，属于FPGA验证技术领域。本发明结合数据挖掘和FPGA设计领域的知识，设计了一种基于多维关联规则挖掘的FPGA软件缺陷分析方法，该方法综合考虑规则检查结果、形式化验证结果与FPGA软件缺陷之间的相互关联关系，实现对潜在缺陷的全面分析和精确识别，提高FPGA软件缺陷分析速率，帮助改进FPGA代码的质量和可靠性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117033176 A (43)申请公布日 2023.11.10 (21)申请号 202310832639.5 (22)申请日 2023.07.08 (71)申请人北京计算机技术及应用研究所地址