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本发明涉及一种测试治具、测试设备及测试方法，涉及测试设备技术领域。本发明的测试治具包括上天盘组件、下天盘组件以及测试组件；上天盘组件能够沿上下方向移动；下天盘组件与所述上天盘组件可拆卸地连接；测试组件位于所述下天盘组件的下方，所述测试组件用于放置并测试待测电路板；其中，所述下天盘组件可随所述上天盘组件沿上下方向移动，以压紧所述待测电路板，使所述待测电路板的元件面上的检测点与所述测试组件相接触。本发明所公开的技术方案能够减少物料消耗、降低生产成本。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117031083 A
(43)申请公布日 2023.11.10
(21)申请号 202310822110.5
(22)申请日 2023.07.04
(71)申请人 格力电器（武汉）有限公司
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