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本发明公开一种质子激发X射线荧光分析系统及方法，涉及离子束分析领域，该系统中离轴抛物面镜和固体靶设置在真空靶室内；真空靶室的侧面设置狭缝；真空束线腔通过狭缝与真空靶室相连；三元四级磁铁套设在真空束线腔上靠近狭缝的一端处；铍窗设置在真空束线腔外壁上，并与真空束线腔内的样品的位置对应；X射线单光子CCD与铍窗匹配设置；真空靶室内的激光与固体靶相互作用，同时产生宽能谱的质子束、电子束和X射线；并通过调节三元四级磁铁的电流，传输和聚焦不同能量的质子束，本发明能够便捷地将不同能量的质子束传输并聚焦到样品的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117054465 A
(43)申请公布日 2023.11.14
(21)申请号 202311026060.6
(22)申请日 2023.08.15
(71)申请人 北京大学
地址 100871
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