电子元器件有效贮存期、超期复验及装机前的筛选要求.docVIP

PAGE 11/ NUMPAGES 11 电子元器件有效贮存期、超期复验及装机前筛选要求 范围 本要求规定了XXX有限公司型号产品用电气、电子、机电元器件（以下简称元器件）在规定环境条件下的贮存期限（有效贮存期）及超过有效贮存期的复验方法和条件，并在装机前应通过筛选试验。 本要求适用于XXX有限公司型号产品用元器件，对于未列入本要求的元器件可参照与该类元器件有相同或相似特征（如制造工艺、结构特点等）的列入要求准元器件执行。 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本要求的引用而成为本要求的条款。凡是注明日期的的引用文件，其随后所有的修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本要求，然而，鼓励根据本要求达成协议的各方面研究是否可使用这些文件最新版本。凡是注明日期的引用文件，其最新版本适用于要求。 GJB 128A─1997 半导体分立器件试验方法 GJB 360A─1996 电子及电气元件试验方法 GJB 548A─1996 微电子器件件试验方法和程序 QJ 1693─1989 电子元器件防静电要求 Q/N 446─2008 电子元器件有效贮存期和超期复验要求 Q/N 465 元器件外观检验要求 Q/N 466 型号产品电子元器件筛选通用规范 术语和定义 3．1 贮存期 元器件从生产完成并在生产厂检验合格后至装机前在一定的环境条件下存放的时间。 贮存期的计算按4.2的规定。 注：本要求中的贮存期，均以月计算。 3．2 有效贮存期 一定质量等级的元器件在规定的贮存环境下存放，装机前其批质量能满足要求的期限。 3．3 基本有效贮存期 未考虑元器件质量等级的有效贮存期。 3．4 贮存质量等级 根据元器件在制造、检验过程中质量控制严格程度，对元器件贮存后性能的影响而确定的等级。在本要求中规定了四个贮存质量等级，分别以Q1、Q2、Q3、Q4表示。 3．5 贮存期调整系数 根据元器件不同的质量等级和用途，对基本有效贮存期调整的系数。 3．6 超期复验 超过有效贮存期的元器件，应进行的一系列检验。 3．7 继续有效期 超期复验合格的元器件在规定的贮存环境条件下存放，其批质量能满足规定要求的期限。 3．8 筛选 在有效贮存期及继续有效期的元器件，在装机前应进行的检验。 一般要求 4．1 贮存环境条件 4．1．1 通用贮存环境条件 元器件应贮存在清洁、通风、无腐蚀性气体并有温度和相对湿度控制的场所。通用贮存环境条件的分类见表1。 表1 通用贮存环境条件的分类 分类代号 温度（℃） 相对湿度（%） Ⅰ 10~25 25~70 Ⅱ -5~30 20~75 注：中心库须满足Ⅰ类存储环境条件，各使用单位库房须满足Ⅱ贮存环境条件。 4．1．2 特殊贮存环境条件 某些元器件的存放应满足以下特殊要求： 对静电放电敏感的元器件（如MOS器件、微波器件等），应按QJ 1693的规定，采取静电放电防护措施； 非密封片状元器件应存放在充有惰性气体的密封容器内，或存放在采取有效防氧化措施（如加稀释剂、防氧化剂等）的密封容器内； 微电机等机电元器件的油封及单元包装应保持完整。 4．2 贮存期的计算 从贮存起始日期至预定装机日期之间的时间为元器件的贮存期。贮存期的起始日期按下列优先顺序确定： 按照元器件生产日期进行计算。若元器件的生产日期为日期或星期代码，则凡仅有年月无日期的均按该月15日计算；若元器件的生产日期为星期代号，则按该星期的星期四计算； 按产品合格证上的检验日期计算； 按包装容器上的包装日期提前一个月计算； 按到货日期提前一个月计算。 4．3 超过有效贮存期元器件的复验 4．3．1 复验批 凡在相同类别的贮存环境条件下存放的元器件，同生产厂家、同型号、同批次，且复验类别相同，构成同一复验批。除非另有说明，以下的批均为复验批。 4．3．2 复验元器件的失效分析 在复验过程中发现致命缺陷（功能失效）或严重缺陷的元器件，应进行失效分析，如果分析结果表明失效或缺陷为批次性的，则该批的元器件不得用于型号产品试（正）样上；如果分析结果表明失效或缺陷为个别缺陷，复验合格率符合要求，则复验后合格产品允许使用于型号产品试（正）样上。 4．3．3 复验报告和复验合格的标志 可委托复验，但应提供复验报告，对元器件复验的结果做出结论。对复验合格的元器件应开具合格证，作为允许装机的凭证。复验报告、合格证上应注明质量等级、复验类型、有效贮存期的起止时间、继续有效期。 4．4 第一次超期复验的分类 贮存期超过有效期贮存期的元器件应按本要求的规定进行复验，复验通过的元器件，才能作为合格品用于型号产品试（正）样上。元器件的超期复验按超过有效贮存期时间的长短分为A1、B1、C1三类： 贮存期已超过有效贮存期，但未超过1.