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本实用新型涉及测试设备技术领域，具体公开一种平整度测试工装，包括：支架，具有相连的测试区和支撑区，支撑区设置于定位平面，测试区开设有安装孔；探针，可移动设置于安装孔内，探针具有相背设置的探头和标识区，探头用于抵接待测设备的测试位置，标识区用于指示探头抵接的测试位置相对于待测设备的标准平面凹陷、相平或凸出；弹性件，用于驱使探针朝待测设备的待测面的测试位置移动，以使探针跟随支架移动时通过标识区指示待测设备的平整度。本申请的平整度测试工装体积小巧，结构精简，测试效率高，无需使用手写笔来触发触控反馈，也
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 220039348 U
(45)授权公告日 2023.11.17
(21)申请号 202321031732.8
(22)申请日 2023.04.28
(73)专利权人 广州视源电子科技股份有限公司
地
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