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本发明涉及外观检测技术领域，提供了一种半导体外观检测分选装置，包括：支撑座，所述支撑座靠近底部的其中两支杆相对一侧固定安装有固定杆一，所述固定杆一的外表面转动安装有分选板一。本发明，通过拉动一下方条时，可以使拉动限位钩绕固定杆三转动，使得限位钩对限位齿盘的限位解除，同步限位齿盘转动相同角度，并通过检测摄像装置对半导体件的外观进行检测，通过控制箱内部的控制器控制电机启动，使其输出轴带动转杆二转动，从而使活动板向下转动，使不合格的半导体件滑落到分选板二的上面，这样即可自动将合格和不合格的半导体件区分
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117066151 A
(43)申请公布日 2023.11.17
(21)申请号 202311119216.5
(22)申请日 2023.09.01
(71)申请人 杭州熙驰科技有限公司
地址 31
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