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一种测试装置及方法.pdfVIP

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  • 2023-11-22 发布于四川
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一种测试装置及方法.pdf

    本发明涉及一种测试装置及系统，应用于对SOC芯片的测试。其中，该测试装置包括配置有测试协议及检测模块的自动检测机台、配置有转换桥和APB总线的待测芯片、配置为自动检测机台与转换桥之间进行数据传输的测试总线。转换桥两端分别配置遵循第一测试协议的第一接口和配置遵循第二测试协议第二接口，APB总线一端连接转换桥，另一端连接若干IP。用于实现通过测试总线与APB总线的数据交互，实现芯片内部各模块数据的访问，减少了人工操作，减少了数据接口和芯片引脚。测试总线实现数据的并行传输以提高数据的处理效率，使得服务

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117092482 A (43)申请公布日 2023.11.21 (21)申请号 202310221160.8 (22)申请日 2023.03.09 (71)申请人 深聪半导体科技 （上海）有限公司

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