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2023-11-25 发布于北京
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基于人工智能的电子元件缺陷快速检测方法.pdf

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本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及基于人工智能的电子元件缺陷快速检测方法，包括：将采集电子元件图像灰度化处理得到电子元件灰度图像；对其进行瓦片分块处理，再对分割窗口进行傅里叶变换操作，得到窗口的频谱图像；根据窗口内的频谱信号变化分析得到窗口中的信号变化程度进而设置互相关信息函数进而得到异常频谱模板窗口；根据异常频谱模板窗口对不同窗口进行差异性分析得到异常频谱图像区域；根据异常频谱图像区域进行定位识别得到电子元件缺陷位置。本发明结合电子元件图像区域性特征，根据频谱图像中的信号互相关函数性质采用固

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117115142 A (43)申请公布日 2023.11.24 (21)申请号 202311329968.4 (22)申请日 2023.10.16 (71)申请人宜兴启明星物联技术有限公司地址

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