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本发明提供一种硅片目视化检测方法及系统,所述方法包括:向被检测的单晶硅片实时发出激光;识别得到单晶硅片图像中的多个同心椭圆光斑,并分析每个激光投射点的激光斑点脉冲聚焦情况;进行图像滤波去噪;计算图像中最大同心椭圆光斑的灰度值,判断其是否为多个漩涡缺陷组成的不纯缺陷整体区域,若是,则进行下一步,否则重复上述步骤;对图像滤波去噪后的单晶硅片图像中的漩涡缺陷区域进行二次识别,判断多个漩涡缺陷所导致的被检测单晶硅片的不纯缺陷程度。本发明提出了能够明确机器视觉目视化检测太阳能电池单晶硅片的黑心缺陷的程度的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117116799 A
(43)申请公布日 2023.11.24
(21)申请号 202311338995.8
(22)申请日 2023.10.17
(71)申请人 无锡京运通科技有限公司
地址 2
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