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• 概述
• X光电子能谱(XPS)
• 俄歇电子能谱(AES)
第五章 光电子能谱分析
内容
n 表面科学的主要发展始于20世纪60年代, 它产生的两个最主要的条件是:
n 超高真空技术的发展
n 各种表面灵敏的分析技术不断出现
第五章 光电子能谱分析
第一节 概述
“表面”的概念
n 过去,人们认为固体的表面和体内是完全相同 的,以为研究它的整体性质就可以知道它的表 面性质,但是,许多实验证明这种看法是错误 的;
n 关于“表面”的概念也有一个发展过程,过去 将1微米厚度看成“表面”,而现在已把1 个 或几个原子层厚度称为“表面”,更厚一点则 称为“表层”。目前,表面分析方法仅对10个 原子层的厚度(小于10nm)范围进行分析。
第五章 光电子能谱分析
n 用一束“粒子” 作为探针来探测样品表面,探针 可以是电子、离子、光子、中性粒子、电场、 磁场、热或声波,在探针作用下,从样品表面 发射或散射粒子或波,它们可以是电子、离子、 光子、中性粒子、电场、磁场、热或声波。检 测这些发射粒子的能量、动量、荷质比、束流 强度等特征,或波的频率、方向、强度、偏振 等情况,就可获得有关表面的信息。
第五章 光电子能谱分析
表面分析方法的特点
探测 粒子
发射 粒子
分析方法名称
简称
主要用途
e
X射线光电子谱
XPS
成份
e
紫外线光电子谱
UPS
分子及固体的电子态
e
同步辐射光电子谱
SRPES
成份、原子及电子态
红外吸收谱
IR
原子态
拉曼散射谱
RAMAN
原子态
表面灵敏扩展X射 线吸收谱细致结构
SEXAFS
结构
角分辨光电子谱
ARPES
原子及电子态、结构
I
光子诱导脱附
PSD
原子态
e
俄歇电子能谱
AES
成份
第五章 光电子能谱分析
e -电子 -光子 I-离子 见P273 表5-1
n 表中仅列出了探测粒子为电子和光子的 常用表面分析方法,此外还有离子、中 性粒子、电场、热、声波等各种探测手 段。这些方法各有其特点,而没有万能 的方法,针对具体情况,我们可以选择 其中一种或综合多种方法来分析。
n X射线光电子能谱 XPS
n 俄歇电子能谱 AES
第五章 光电子能谱分析
第二节 光电子能谱的基本原理(XPS)
第五章 光电子能谱分析
第五章 光电子能谱分析
X射线光电子能谱法(XPS),
因最初以化学领域应用为主要目 标,故又称为化学分析用电子能 谱法(ESCA) 。
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) / Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA)
第五章 光电子能谱分析
1、光电效应
X射线与物质相互 作用时,物质吸收了X 射线的能量并使原子 中内层电子脱离原子 成为自由电子,即X光 电子,如图5-2。
第五章 光电子能谱分析
一、光与物质的相互作用
第五章 光电子能谱分析
2、受激原子的驰豫—去激发
入射光子与原子相互作用产生光电 子,此时原子处于高能激发态,原子存 在趋于平衡的倾向,以达到低能量状态, 这一过程称为驰豫过程, 也称去激发过 程。
第五章 光电子能谱分析
第五章 光电子能谱分析
去激发1
去激发
2
光电子发射可分为三个过程:
(1)电子因吸光而激发;
(2)释放出的电子向固体表面移动;
(3)克服表面势场而射出-脱离固体表面
光电子在固体内移动,最终逸出固体表面 以前所经历的距离,称为光电子逸出深度。 取决于电子的能量和电子平均自由程。
电子平均自由程:指光电子在固体样品表面不 发生非弹性碰撞时逸出的深度。
第五章 光电子能谱分析
3、光电子逸出深度
1、Eb 的计算
1对于气体分子, X射线能量hv用于三部分:
一部分用于克服电子的结合能Eb ,使其激发为 自由的光电子;
一部分转移至光电子使其具有一定的动能Ek ; 一部分成为原子的反冲能Er。
则 hv= Eb + Ek + Er
第五章 光电子能谱分析
随受激原子的原子序数增大而减小, 同时受激发源的影响。
二、光电子能谱测量原理
见P277 表5-2
n 对于固体样品, X射线能量用于:
n 内层电子跃迁到费米能级,即克服该电子的 结合能Eb;
n 电子由费米能级进入真空成为静止电子,即 克服功函数0 ;
n 自由电子的动能Ek 。
则 hv= Eb + Ek + 0
第五章 光电子能谱分析
n 当样品置于仪器中的样品架上时,样品与仪器样品 架材料之间将产生接触电势 ,这是由于二者的功 函数不同所致,若00,则:
n 此电势将加速光电子的运动,使自由电子的动能从 Ek增加到Ek
Ek
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