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- 2023-11-29 发布于四川
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本公开公开了半导体结构及其制备方法、电子设备,涉及半导体技术领域。该方法,包括:提供基底,基底上形成有第一叠层结构;于第一叠层结构上形成第一掩膜层;以第一掩膜层为掩膜,于第一叠层结构中形成自第一叠层结构的上表面延伸至第一导电层上表面的牺牲层;去除第一掩膜层,并于第一牺牲层上交替形成第二掩膜层;以第二掩膜层为掩膜,去除暴露出的第一牺牲层;侧向刻蚀去除部分沟道牺牲层,形成第一凹槽及沟道层;去除第二掩膜层;侧向刻蚀去除剩余沟道牺牲层,形成第二凹槽及环绕沟道层的栅极层。降低对掩膜层材料的要求,成本低,制
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117135923 A
(43)申请公布日 2023.11.28
(21)申请号 202311371113.8
(22)申请日 2023.10.23
(71)申请人 北京超弦存储器研
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