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一种便于定位的集成电路检测用检测镜.pdfVIP

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  • 2023-11-29 发布于四川
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一种便于定位的集成电路检测用检测镜.pdf

    本实用新型公开了一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板、支柱、探测杆和定位块，放置板的顶部与支柱的底部固定连接，支柱套设于探测杆的表面，支柱的顶部与定位块的底部固定连接，定位块的内部开设有定位腔。本实用新型通过设置放置板、支柱、探测杆、定位块、调节机构和定位机构的配合使用，达到了现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 220104902 U (45)授权公告日 2023.11.28 (21)申请号 202321258319.5 (22)申请日 2023.05.23 (73)专利权人 深圳市芯远半导体有限公司 地址

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