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本发明涉及光学技术领域，提供一种自动更换样品的系统。该自动更换样品的系统包括样品定位装置和自动取放样品装置；其中，样品定位装置连接于测角头，用于固定待测样品；自动取放样品装置与样品检测实验站电连接，用于根据样品检测实验站发送的更换样品信号，自动更换样品定位装置上的待测样品。通过在原有的样品检测实验站上安装样品定位装置，以及安装与样品检测实验站的探测器电连接的自动取放样品装置，自动取放样品装置能够根据探测器发送的更换样品信号，自动更换样品定位装置上的待测样品，这样就避免实验人员在实验过程中全程都要
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117147602 A
(43)申请公布日 2023.12.01
(21)申请号 202310917315.1
(22)申请日 2023.07.25
(71)申请人 中国科学院高能物理研究所
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