原创力文档- 14
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- 2023-12-06 发布于四川
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本发明提供一种电子开关耐久性测试电路及测试方法，所述电子开关耐久性测试电路包括辅助开关A、辅助开关A1、电阻性负载Z1、负载Z2以及交流相位控制单元；通过采用STM32单片机作为控制中央处理器，采用高速光耦作为电源隔离和过零检测装置，采用MOSFET器件作为开关控制单元，工作电流达到120A，工作电压AC50‑500V，正负半波可控，相位触发角（开始角）1‑170度，相位截止角（结束角）1‑170度可调。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117169702A
(43)申请公布日2023.12.05
(21)申请号202310895860.5
(22)申请日2023.07.20
(71)申请人德丰电创科技股份有限公司
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