半导体芯片测试系统操作说明指导书v.docVIP

半导体芯片测试系统操作说明指导书v

第一章系统概述

1.1系统概述

半导体芯片测试系统是使用我企业自主研发ZWL－900测试主机、快速光谱分析仪、高精度直流电源、高稳定交流电源、数显功率计等高精度仪器，配合人性化上位机软件，对HID、节能灯、LED模块等灯具测试光、色、电综合性能产品。

系统实现了真正传统仪器技术和虚拟仪器技术完美结合，既可直接经过仪表大屏幕液晶进行一系列测试，又可工作在计算机模式下进行多种测试并进行数据图形分析、存放及报表打印。另外，因为系统中快速光谱分析模块采取了光纤传输导光、CCD快速采集、高速数据转换系统、VC++计算机高效人机交换界面等一系列高新技术计量标准，确保了对在5ms～800ms内光谱功率分布图、半宽度、主波长、色品坐标等全部光谱参数测量。

系统模块化和高集成度确保了系统高可靠性，低温漂确保了系统反复性。同时，系统含有强大电源功效，最大输出恒流可达5A。

便利试验特征

清楚大屏幕液晶显示器

快捷式中英文操作按键

采取优异四线制测量，使得测量数据愈加正确

使用优异校准算法，能够提供测量性能强大曲线分析功效

连续性和一致性测试功效

使用高精度、高稳定性电源

灵活系统特征

RS232标准接口

配有功效强大软件，系统升级灵活

性能扩展方便

半导体芯片测试系统操作说明指导书v全文共1页，当前为第1页。开放式测试性能、齐全测试支架可满足不一样用户多种测