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本发明涉及射频测试技术领域，提供了一种电波暗室参数的确定方法，包括：S1、测量无屏蔽条件下干扰信号电平I的值；S2、确定预收信号电平P，及同频干扰对P的量值的不确定度分量；S3、基于信干比计算屏蔽室的屏蔽衰减AI，或基于底噪上升量计算屏蔽室的屏蔽衰减AN，或计算强电磁干扰的屏蔽衰减Ap，在实际工程中如果需要同时使用这3个屏蔽衰减要求数值或者其中2个屏蔽衰减要求数值，应该取其最大值。本发明还实现基于天线方向图测量不确定度来计算电波暗室静区反射电平要求。本发明创造性地提供了一种屏蔽室和天线暗室参数的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117192229A
(43)申请公布日2023.12.08
(21)申请号202311055963.7
(22)申请日2023.08.21
(71)申请人中国信息通信研究院
地址100
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