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一种工业颗粒整体粒径分布估计方法及系统.pdf

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    本发明公开了一种工业颗粒整体粒径分布估计方法及系统，通过同步获取工业颗粒的颗粒表面图像和深度图，对颗粒表面图像进行图像分割，获得颗粒表面的粒径分布，根据深度图计算颗粒堆层数，根据颗粒表面的粒径分布和颗粒堆层数，建立表征表面粒径分布与整体粒径分布关系的分层堆积模型以及根据颗粒表面的粒径分布和分层堆积模型，获得颗粒堆整体的粒径分布，解决了现有技术无法精准在线检测颗粒堆整体粒径分布的技术问题。通过从颗粒堆的随机采样、颗粒渗透和空间分布的角度对表面与整体PSD间关系进行建模，实现了只需要输入表面图像和深

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117236150A

    (43)申请公布日2023.12.15

    (21)申请号202311017479.5G06F17/18(2006.01)

    (22)申请日2023.08.

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