低体金属硅片的挽救方法.pdfVIP

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本发明涉及一种低体金属硅片的挽救方法,所属硅片加工技术领域,包括如下操作步骤:第一步:酸腐蚀后检查出来的污迹不良片及LP‑CVD后发现的成膜不良片按类型装入特氟龙制成的片盒内。第二步:以SC1药液及纯水对硅片表面进行预清洗。第三步:通过碱腐蚀药液槽对硅片进行处理,碱腐蚀药液采用TMAH有机碱进行配置。第四步:对经TMAH药液处理过的硅片进行洗净,洗净采用稀释的HF药液对表面金属进行处理。具有操作便捷和效果稳定性好的特点。有效去除低体金属对硅片表面的问题同时不影响产品质量。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117238749A

(43)申请公布日2023.12.15

(21)申请号202311021105.0

(22)申请日2023.08.14

(71)申请人杭州中欣晶圆半导体股份有限公司

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