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本实用新型公开了一种半导体芯片测试治具，包括测试仪器主体、螺纹杆、滑块、齿条、齿轮、旋转轴和夹板，所述测试仪器主体的侧面旋转连接有螺纹杆；本实用新型通过设置螺纹杆，顺时针旋转螺纹杆带动滑块向后滑动，由于齿条与滑块固定连接，所以当滑块滑动时会带动齿条一并向后滑动，此时与齿条相啮合的齿轮会随之逆时针旋转，因为齿条的长度等于齿轮周长的一半，所以齿轮最多旋转180°，由于旋转轴与齿轮固定连接，所以当齿轮旋转时会带动旋转轴一并逆时针旋转，此时与旋转轴固定连接的夹板会一并围绕旋转轴的圆心逆时针旋转，当夹板旋
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220188658U
(45)授权公告日2023.12.15
(21)申请号202321412291.6
(22)申请日2023.06.05
(73)专利权人铜川市高远产业
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