半导体装置及其制造方法.pdfVIP

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  • 2023-12-20 发布于四川
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一种半导体装置包括:在第一方向上延伸的下图案;第一阻挡结构,其在所述下图案上,并且包括至少一个第一阻挡膜,所述第一阻挡膜包括掺氧晶体硅膜;源极/漏极图案,其在所述第一阻挡结构上;以及栅极结构,其在所述下图案上在第二方向上延伸并且包括栅电极和栅极绝缘膜。还讨论了相关的制造方法。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117253921A

(43)申请公布日2023.12.19

(21)申请号202310669149.8

(22)申请日2023.06.07

(30)优先权数据

10-2022-0073910

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