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本实用新型公开了一种硬盘基片表面微观缺陷光学自动检测装置，涉及硬盘基片检测技术领域，包括料台和设置料台顶端的轨道，包装盒放置在轨道上，料台由上料台、检测台和下料台依次排列而成，轨道由进盒轨、检测轨道和出盒轨依次串联而成，检测轨道的下方设置顶升机构，检测轨道的上方设置检测机构，对硬盘基片进行自动检测。本实用新型每一个盘基片配2个仿生相机，达到两面同时检测，检测过程采用在线式测试，盘基片在仿生相机面前快速移动过程检测表面缺陷，大大的提升了盘基片检测准确度，UPH达到1500，相当于6个员工的总UPH
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220231515U
(45)授权公告日2023.12.22
(21)申请号202321008866.8
(22)申请日2023.04.27
(73)专利权人深圳长城开发精密技术有限公司
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