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芯片测试底座生成方法、装置及计算机设备.pdfVIP

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  • 2023-12-28 发布于四川
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芯片测试底座生成方法、装置及计算机设备.pdf

    本申请涉及一种芯片测试底座生成方法、装置及计算机设备，该方法中通过根据信号探针对应的探针电感信息和目标导线的特性阻抗信息，确定信号探针和与信号探针对应的第一接地块之间的目标电容信息，进而根据目标电容信息、信号探针对应的探针截面面积信息、信号探针的原始位置信息和第一接地块的原始位置信息，确定第一接地块的第一目标位置信息，最后根据第一目标位置信息，更新目标芯片测试底座位置信息，并根据更新后的目标芯片测试底座位置信息进行芯片测试底座的生成。基于上述方法通过增加信号探针与其对应接地块的耦合电容，以抵消探

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117289115A

    (43)申请公布日2023.12.26

    (21)申请号202311584893.4

    (22)申请日2023.11.24

    (71)申请人北京国科天迅科技股份有限公司

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