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本发明提供一种测试待测设备电压敏感度的测试装置及工作方法，包括电压敏感度测试装置和待测设备，所述电压敏感度测试装置包括机械开关和IGBT开关，机械开关的两端与IGBT开关的两端并联连接，外部电源与电压敏感度测试装置连接，电压敏感度测试装置分别与待测设备和连接MCU主控电路的一端连接，MCU主控电路的另一端与数据采集器连接，数据采集器与待测设备连接，该方法能够便捷准确地检测出精确电压敏感度范围，高效且操作简便。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117310336A
(43)申请公布日2023.12.29
(21)申请号202311340374.3
(22)申请日2023.10.17
(71)申请人广州城市理工学院
地址5108
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