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本申请关于一种测试装置和测试方法,涉及生产测试技术领域。用于解决对于具有应对极端温度环境的功能电路的电路板测试存在成本高的问题。该测试装置用于对具有温度传感电路的待测电路板进行测试。测试装置包括测试电路板、处理器、第一连接器和至少一组参数调节电路。第一连接器和至少一组参数调节电路均位于测试电路板上。第一连接器与处理器耦接,并且第一连接器还用于与待测电路板耦接。每组参数调节电路用于与待测电路板中的温度传感电路耦接。参数调节电路用于调节温度传感电路的温度门限值,以测试待测电路板基于调节后的温度门限值
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117310436A
(43)申请公布日2023.12.29
(21)申请号202311036986.3
(22)申请日2023.08.16
(71)申请人超聚变数字技术有限公司
地址4
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