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基于量子关联光子并行收集的超分辨成像方法及装置.pdfVIP

基于量子关联光子并行收集的超分辨成像方法及装置.pdf

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    本发明公开了一种基于量子关联光子并行收集的超分辨成像方法及装置，本发明使用光分束器将显微镜中探测到的荧光分成两束再进入并行探测系统，双路并行探测通过校正对准后即可实现对荧光关联光子对更高效率的收集，从而达到更好的图像质量。相较于单一的并行探测光路，本发明用于具有单光子源特性的量子点及固态缺陷中；本发明利用简单的分束二阶关联测量，可以在不提升激光功率的情况下实现分辨率的提升。相较于现有的量子关联成像技术，本发明设计的双路并行收集方式可以在时空上进行符合测量，并且保留了更多的符合光子信息，缩短了成像

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117330543A

    (43)申请公布日2024.01.02

    (21)申请号202311201916.9

    (22)申请日2023.09.18

    (71)申请人浙江大学

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