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本发明涉芯片验证领域，特别是涉及一种可重用验证计划创建方法、存储介质及电子设备，其通过将验证计划中每个验证点的层次结构信息保存在结构文件的结构数据块中，将每个验证点的非层次结构信息保存在关联文件的关联数据块中，分别得到每个验证计划的结构文件和关联文件；将用户指定的待嵌套的验证模块作为子节点添加到目标嵌套验证点下，并通过索引属性用于指定待嵌套的验证模块的名称，从而实现嵌套功能，其减少了修改范围解决了卡顿的问题，同时修改范围降低也解决了容易出错的问题。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117331829A
(43)申请公布日2024.01.02
(21)申请号202311274553.1
(22)申请日2023.09.28
(71)申请人北京云枢创新软件技术有限公司
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