一种针对密码算法芯片的自我检查方法.pdfVIP

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2024-01-06 发布于四川
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一种针对密码算法芯片的自我检查方法.pdf

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本发明公开一种针对密码算法芯片的自我检查方法，应用于计算机和集成电路领域，针对现有的硬件密码检测存在的检测能力优先，且易受集成电路加工影响的问题；本发明从密码算法的设计出发，首先提取密码算法模块的控制信号；然后提取密码算法单元的输入信号；其次以提取的控制信号作为指示，以提取的输入信号作为输入，基于查招标建立简化的密码算法执行单元检测模型，将密码算法执行单元检测模型的输出信号与提取的密码算法执行单元的实际输出信号进行对比；如果信号一致，则密码算法执行正常；否则执行异常；采用本发明的方法不受集成电路

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117349907A

(43)申请公布日2024.01.05

(21)申请号202311289937.0

(22)申请日2023.10.07

(71)申请人电子科技大学长三角研究院（湖州）

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