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本发明公开了芯片智能管脚性能测试控制系统，涉及芯片智能管脚性能测试控制技术领域，包括异常结果单元，所述异常结果单元对芯片的电源供应测试、性能测试、引脚测试、温度测试和缺陷测试的各项结果都显示异常，则该芯片存在问题，不可以继续进行加工投入使用，需要分辨出人为异常和真实异常，对该芯片进行进一步处理。本发明通过所述人为异常模块当芯片测试出现异常时会先进入人为异常模块进行重新测试，若测试结果为正常，则进入测试报告单元对数据进行整合分析编写出测试报告，所述真实异常模块若人为异常模块重新测试结果仍为异常则进
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117368689A
(43)申请公布日2024.01.09
(21)申请号202311301781.3
(22)申请日2023.10.10
(71)申请人深圳市金日泰电子有限公司
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