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2024-01-13 发布于四川
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一种用于结构位移测量的感兴趣区域设置方法及系统.pdf

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本发明公开一种用于结构位移测量的感兴趣区域设置方法及系统，方法包括：S1、利用模板匹配方法将模板图像与待匹配图像序列相匹配，在待匹配图像序列中框选出标记点位置，初步划分感兴趣区域；S2、检测感兴趣区域中特征点，基于特征点数量对感兴趣区域进行评价；S3、根据评价结果扩展感兴趣区域的尺寸和灰度值。与现有的单一扩大感兴趣区域尺寸的方法不同，将区域尺寸调整与灰度值调整相结合，进一步提出逐级调整的策略，能够强化关键区域的特征识别，滤除非关键区域的特征。能够精准设置扩展区域的灰度值，明显提升感兴趣区域的特征

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117392368A

(43)申请公布日2024.01.12

(21)申请号202311273055.5G06V10/50(2022.01)

(22)申请日2023.09.

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