半导体激光测距.docxVIP

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  • 2024-01-22 发布于天津
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半导体激光测距

摘要

半导体激光测距机具有结构简单、体积小、重量轻、低成本、高重复频率、高效率等特点,在中、近程测距方面有明显优势,但是输出功率过低,接收系统误差过大等问题大大限制了测距的应用。所以如何提高激光测距机的性能是亟待解决的问题之一。

本文主要采用单透镜准直系统进行发散角的压缩从而达到提高发射功率的目的。针对635nm激光二极管的光源,使用ZEMAX软件模拟了透镜准直系统成像像差,选取了最佳的设计方案。针对短距离脉冲激光测距误差进行分析,采用单片机控制TDC-GP2芯片在一个测量周期内进行多次测量,然后通过单片机计算取其平均值后输出,大大提高了脉冲激光测距的精度。

关键词:激光测距;激光准直;ZEMAX;噪声;误差

第1章引言

激光测距仪具有结构简单,高重复频率,高效率,重量轻,便携,精度高等特点,在中、近程方面有明显优势。不仅可以准确快捷的用来测量距离,计算面积和体积,而且更方便、安全、可靠。因此被广泛应用于建筑工程、测绘行业等领域。

在脉冲激光测距系统中普遍采用YAG激光器作为光源,由于其主要是以闪光灯泵浦方式注入能量,因此能量转换效率低,重复频率低等问题一直难以克服。而半导体激光测距系统是以半导体激光器作为光源,半导体激光器是以直接电能注入的形式进行工作,具有电光转换效率高和重复频率高的优点,目前受到国内外各研究机构的重视,并展开了深入的研究。

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