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- 2024-01-20 发布于四川
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本发明提供一种其中形成有所需的贯通电极的光检测装置。根据本发明的光检测装置包括:第一半导体层,其具有光电转换区域,并且所述第一半导体层的一面是第一面,另一面是作为光入光面的第二面;第二半导体层,其一面是第三面且另一面是第四面;第二配线层,其与所述第二半导体层的所述第三面叠置;第三配线层,其与所述第二半导体层的所述第四面叠置;第一配线层,其一面与所述第一半导体层的所述第一面叠置并且另一面与所述第二配线层和所述第三配线层中的一者叠置;第一导体,其具有第一宽度,由第一材料构成,并且沿厚度方向贯穿所述第
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117425963A
(43)申请公布日2024.01.19
(21)申请号202280040854.5藤井洋辅大井上昂志斋藤卓
(22)申请日2022.06.
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