一种多工位同步进行的推拉力测试仪.pdfVIP

一种多工位同步进行的推拉力测试仪.pdf

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本发明公开了一种多工位同步进行的推拉力测试仪,涉及芯片生产测试技术领域,包括基座、观测组件和拉力组件,所述基座的内侧安置有安置组件,且基座的顶部后端设置有衔接架,所述衔接架的顶部外侧设置有顶座,所述顶座的前部安置有观测组件,且顶座的前部两侧安置有第一电推杆。本发明第一压力感应器内部设置有测距组件,当衔接杆在调整拉力杆与金线位置进行位移时,第一压力感应器内的测距组件能根据衔接杆调整位置的距离来控制第二电推杆工作,这使得第一接触板始终能与衔接杆保持适当的距离,此外设备在对不同类型的芯片进行检测时,可

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117433987A

(43)申请公布日2024.01.23

(21)申请号202311260148.4

(22)申请日2023.09.27

(71)申请人深圳市佰强光电有

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