一种ATC高低温测试数据的温度解析方法.pdfVIP

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2024-01-27 发布于四川
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一种ATC高低温测试数据的温度解析方法.pdf

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本公开揭示了一种ATC高低温测试数据的温度解析方法，包括：S100：设定芯片测试的标准参数，所述标准参数包括标准温度、波动温度和测试卡控时长，其中，所述标准温度和波动温度构成卡控温度；S200：记录芯片当前测试时间；S300：实时获取芯片根据当前测试时间测试开始后在所设定的测试卡控时长内的测试温度曲线；S400：将所采集的芯片测试温度曲线与卡控温度进行比对，根据比对结果判断芯片的实际温度是否存在异常。本公开不需要监控GPIB信号，只需记录芯片测试开始时间和结束时间，以及获取芯片的实际温度即可对芯

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117452181A

(43)申请公布日2024.01.26

(21)申请号202311364842.0

(22)申请日2023.10.20

(71)申请人东莞市利致软件科技有限公司

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