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本申请公开了一种在SMT质检领域的图像光照迁移方法、装置、设备以及介质，其方法包括：获取第一图像信息和第二图像信息，其中，第一图像信息包括元器件在第一光照下的图像信息，第二图像信息包括元器件在第二光照下的图像信息；调节第一图像信息和第二图像信息对应的参数值，得到第三图像信息；将第三图像信息输入至图像分类模型中，得到第三图像信息的交叉熵值；循环上述步骤，得到元器件的多个参数值，并基于优化算法获取多个参数值中使交叉熵值最小的最优参数值；根据最优参数值，生成最接近元器件的真实图像的第四图像信息。本申请
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117474813A
(43)申请公布日2024.01.30
(21)申请号202311458813.0G06V10/60(2022.01)
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