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本发明提供了一种高纯锗探测器的制冷系统，涉及探测技术领域。制冷系统包括：高纯锗探测器，包括探测器本体；探测器冷指，用于传导来自于第一冷却介质的冷量，以为探测器本体制冷；第一冷却介质，用于为探测器冷指提供冷量；制冷容器，用于盛装液态的第一冷却介质；制冷机，用于提供第一制冷功率和第二制冷功率以维持制冷容器中的冷却环境，其中，第一制冷功率用于对气化的第一冷却介质进行冷却液化，第二制冷功率用于对通入的第二冷却介质进行冷却液化；制冷剂补充装置，用于提供第二冷却介质，第二冷却介质为气态，第一冷却介质和第二冷
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117490318A
(43)申请公布日2024.02.02
(21)申请号202311840685.6
(22)申请日2023.12.29
(71)申请人清华大学
地址100084
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