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2024-02-03 发布于四川
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芯片插座安装接触电阻测试装置及方法.pdf

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本发明实施例公开的芯片插座安装接触电阻测试装置及方法，涉及半导体测试技术领域，包括：测试主板，至少布设有第一走线、第二走线及第三走线；测试基板，至少布设四个管脚，并通过第四走线互联，所述第三管脚与第四管脚通过第五走线互联；芯片插座，位于测试主板和测试基板之间；测量分析单元，与所述第一走线与第三走线的第二端分别连接，并配置为向所述第一走线发送测试信号，并经由第三走线传输返回测试信号来测试所述第一端子至第四端子的接触电阻。本发明便于测量出芯片插座端子的安装接触电阻，可以在一定程度上评估出芯片插座端子

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117491738A

(43)申请公布日2024.02.02

(21)申请号202311441158.8

(22)申请日2023.10.31

(71)申请人海光信息技术（成都）有限公司

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