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提供了一种校准质谱仪的方法。该方法包括从离子源生成校准离子。校准离子经由离子光学装置从离子源被输送到质谱仪的质量分析器。向离子光学装置施加特征电压，以控制离子进入离子光学装置和/或离开离子光学装置的传送。所施加的特征电压导致校准离子的一定量的无意解离。使用质量分析器执行校准离子的MS1分析以获得校准离子的MS1谱。确定存在于MS1谱中的校准离子的无意解离量。基于存在于MS1谱中的校准离子的无意解离量来校准离子光学装置的特征电压，以在MS1分析期间提供校准离子的目标无意解离量。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117501406A
(43)申请公布日2024.02.02
(21)申请号202280043111.3(74)专利代理机构上海专利商标事务所有限公
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