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本发明公开了一种两量子比特逻辑门参数的测试方法及装置、量子计算机，通过获取用于反映待测两量子比特逻辑门的展宽参数与幅值参数间的理论调制关系的第一物理模型，对第一量子比特以及第二量子比特执行第一实验，并基于第一物理模型以及实验结果判断待测两量子比特逻辑门的参数是否符合要求。基于本申请提出的两量子比特逻辑门参数的测试方法对两量子比特逻辑门进行测试，由于预先建立了两量子比特逻辑门参数的物理模型，通过物理模型跟实验结果比较直接能得出两量子比特逻辑门参数是否符合要求，整个测试过程无需人工介入，可以实现快速
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117521818A
(43)申请公布日2024.02.06
(21)申请号202210897980.4
(22)申请日2022.07.28
(71)申请人本源量子计算科技（合肥）股份有限
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