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本发明方便更换测试探针的探针卡属于半导体测试技术领域；其包括：连接板，连接板表面开设有用于安装板嵌合的安装槽，导向板表面与夹持板贴合连接，导向板和夹持板贴合面均开设有限位槽，限位环由若干个相互套接的环形圈组成，限位环表面设有凸起部，与凸起部对应的限位环另一侧形成有开槽，开槽内部与压块滑动连接，测试探针表面开设有若干个均匀分布的卡槽；本发明采用固定板和夹持板进行探针的插接固定，并在开槽内部设置可活动的压块与探针表面的卡槽进行配合，实现稳定限位，且在探针两侧设置卡槽，在更换时只需轻轻旋转探针即可将其
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117517735A
(43)申请公布日2024.02.06
(21)申请号202410013684.2
(22)申请日2024.01.04
(71)申请人苏州迪克微电子有限公司
地址2
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