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本发明公开了一种可调节芯片测试座盖，包括上盖体，所述上盖体的顶部设置有轴孔，在所述轴孔内安装有旋转中轴，在所述旋转中轴顶部设置有旋钮盘，在所述旋转中轴的底部设置有压块支撑板，在所述旋钮盘与上盖体之间设置有止挡装置，当旋钮盖进行旋转时，所述止挡装置从旋钮盖旋转的圆周方向对旋钮盖形成止挡。本申请中操作员不需要观察任何刻度或者标尺，在操作过程中只需要先通过操作员旋转中轴对芯片进行一次压覆到位后，通过调节止挡杆的位置使其于止挡块接触从而形成标记的位置，这样再对同类芯片进行压覆的时候，只需要使其止挡杆在旋
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117538573A
(43)申请公布日2024.02.09
(21)申请号202311485088.6
(22)申请日2023.11.08
(71)申请人东莞市台易电子科技有限公司
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