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本发明公开了一种计数率校正模型的构建方法及装置，该方法中光子计数设备在获取每个能量仓的第一实际计数率和期望计数率后，可以采用每个通道包括的多个能量仓的期望计数率和第一实际计数率构建计数率校正模型，由此采用该计数率校正模型对能量仓的计数率进行校正。其中，期望计数率为在第一扫描条件下扫描第一物体的理论计数率，期望计数率是基于第一物体的第一期望衰减量和在第一扫描条件下的参考计数率获得的。由于是采用真实采集的计数率构建计数率校正模型，因此提高了构建的计数率校正模型的准确性，进而提高了对能量仓的计数率校正
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117540640A
(43)申请公布日2024.02.09
(21)申请号202311572428.9
(22)申请日2023.11.22
(71)申请人东软医疗系统股份有限公司
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