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2024-02-10 发布于四川
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根据一个示例实施例，提供了一种半导体辐射检测器(300、300、400a、400b、400c、500a、500b、500c)，该半导体辐射检测器(300、300、400a、400b、400c、500a、500b、500c)包括第一导电类型的半导体块(101)，其包括第一极性的多数电荷载流子；电极布置，嵌入在半导体块(101)的一个或多个表面上，该电极布置包括至少一个集电极(103、103)和一个或多个其他电极(102、102)，该至少一个集电极(103、103)嵌入在半导体块(101)

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117546306A

(43)申请公布日2024.02.09

(21)申请号202280044002.3(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所

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