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本公开实施例提供一种电容式检测结构及电子设备，包括：底座以及位于底座正上方的盖板，底座与盖板相间隔，盖板承载压力；电路板，电路板位于盖板朝向底座的一面；导电片，导电片位于底座朝向盖板的表面；两个极板，两个极板之间具有正对区域，其中，至少一个极板位于电路板朝向导电片的表面，且随着盖板受到压力，两个极板之间的电容值发生变化。根据电容的计算公式，介质介电常数、极板面积或极板的相对面积以及极板之间的间隔距离是引起电容值改变的三个变量，本方案通过固定两个变量，控制两个极板之间的相对面积或极板之间的间隔距离
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117539366A
(43)申请公布日2024.02.09
(21)申请号202410033215.7
(22)申请日2024.01.09
(71)申请人基合半导体（宁波）有限公司
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