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本发明涉及一种用于验证X射线荧光装置(9)的校准的测量对象(100)和方法，其中测量对象(100)具有主体(110)和布置在主体(110)上的至少一个标记(112)。标记由与主体(110)不同的材料形成，并且标记(112)配有至少一个另外的层(114)，所述层在受到X射线辐射(RS)撞击时发出具有不同强度(IS、IRf)的电磁辐射。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117546012A
(43)申请公布日2024.02.09
(21)申请号202280044185.9(74)专利代理机构北京知帆远景知识产权代理
(22)申请日2022.06.
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