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本发明提供了一种具有多扫描方式的X射线检测系统，包括框架、探测器扫描机构、工件直线扫描机构、工件圆周扫描机构和X射线源扫描机构；所述探测器扫描机构安装至框架上部，所述探测器扫描机构用于实现检测透过工件的X射线；所述工件直线扫描机构和工件圆周扫描机构均安装至框架的中部，且工件圆周扫描机构在工件直线扫描机构的下方；所述工件直线扫描机构用于对工件实现X向、Y向直线三维扫描；所述工件圆周扫描机构用于对工件实现圆周三维扫描；所述X射线源扫描机构设置在框架下方，用于发射穿过工件的X射线。本发明可根据需检测工
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117538351A
(43)申请公布日2024.02.09
(21)申请号202311573791.2
(22)申请日2023.11.23
(71)申请人天津三英精密仪器股份有限公司
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