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本发明提供一种封装支架缺陷检测方法及系统，包括采集不同光场下的封装支架的图像信息，以得到支架明场图像以及支架暗场图像；运算后得到理想明场图像以及理想暗场图像，框选杯口圆区域中出的杯口圆特征区域，并框选出污染缺陷区域中的污染缺陷特征区域；基于差分模块对杯口单元模块区域以及污染缺陷模块区域进行拟合，以得到封装支架以及本体的划痕区域；对杯口坐标的位置以及污染缺陷坐标的位置进行标记，以分别得到杯口参考区域以及污染缺陷参考区域，并基于彩色图像分割算法对杯口参考区域以及污染缺陷参考区域进行分割，以得到封装支
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117541579A
(43)申请公布日2024.02.09
(21)申请号202410020938.3G06T7/90(2017.01)
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